产品列表PRODUCTS LIST

博九平台>产品中心>通用测试仪器>其他更多测试仪器>日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60

简要描述:

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60用BIN的分选接口进行被测物体的测试。

更新时间:2019-06-24

分享到: 1
在线留言
日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列产品详细信息

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列概述

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60用BIN的分选接口进行被测物体的测试。

 

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列特点

★ 高速测量2ms

★ 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断

★ 对应测试线,比较器功能/触发输出功能

★ 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试

★ 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试

★ 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

 

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列规格表

测量参数

Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)

测量范围

博九平台C:0.9400pF~20.0000mF

D:0。00001~1。99000

基本精度

(代表值)C: ±0。09% rdg。 ±10 dgt。, D: ±0。0016

※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒压模式: 100mV (仅现3504-60), 500 mV, 1 V

测量范围:

CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)

CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)

CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻

博九平台5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)

显示

发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)

测量时间

典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)

※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能

BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT。 I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

 

联系人
在线客服
用心服务 成就你我
博九 天津快乐十分官网 福建快3APP下载 博九 北京快3APP下载 安徽快3软件下载 海南4+1 博九娱乐网 博九 福建快3APP下载
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站