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日本日置HIOKI C测试仪3506-10

简要描述:

日本日置HIOKI C测试仪3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

博九平台更新时间:2019-06-24

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日本日置HIOKI C测试仪3506-10

日本日置HIOKI C测试仪3506-10系列产品详细信息

日本日置HIOKI C测试仪3506-10系列概述

日本日置HIOKI C测试仪3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

 

日本日置HIOKI C测试仪3506-10系列特点

★ 模拟测量时间0。6ms(1MHz)的高速测量

★ 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度

★ 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量

★ 根据BIN的测定区分容量

 

日本日置HIOKI C测试仪3506-10系列规格表

测量参数

C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围

C:0。001fF~15。0000μF

博九平台D: 0。00001 ~ 1。99999

Q:0。0 ~ 19999。9

基本精度

(代表值)C: ±0。14% rdg。 D: ±0。0013

测量频率

1kHz, 1MHz

测量信号电平

500mV, 1V rms

输出电阻

1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

显示

博九平台LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间

1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz

功能

BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT。 I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大40VA

体积及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1

 

联系人
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