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日本日置HIOKI C测试仪3506-10

  • 型   号:3506-10
  • 价   格:

日本日置HIOKI C测试仪3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

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日本日置HIOKI C测试仪3506-10概要

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

日本日置HIOKI C测试仪3506-10规格表

测量参数C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率1kHz, 1MHz
测量信号电平500mV, 1V rms
输出电阻1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大40VA
体积及重量260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1

 

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