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LCR测试仪IM3523

简要描述:

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523的面板保存功能更好,樶多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。

更新时间:2019-07-16

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LCR测试仪IM3523

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523系列产品详细信息

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523系列概述

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523的面板保存功能更好,樶多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

 

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523系列特点

★ 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)

★ 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。

★ 内置比较器和BIN功能

★ 2ms的快速测试时间

 

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523系列规格表

  测量模式

  LCR,连续测试

  测量参数

  Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q

  测量量程

  100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)

  可显示量程

  Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:

  ± (0。000000 [单位]* ~9。99999G [单位])(*为樶高分辩率时的显示位数)

   只有 Z和Y显示真有效值

  θ: ± (0。000°~999。999°), D: ± (0。00000~9。99999)

  Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)

  基本精度

  Z : ±0。05%rdg。 θ: ±0。03°

  测量频率

  40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)

  测量信号电平

  正常模式

  V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms

  CC模式: 10μA~50mArms,10μArms

  输出阻抗

  正常模式:100Ω

  显示

  单色LCD

  测量时间

  2ms(1kHz,FAST,代表值)

  功能

  比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能

  接口

  EXT I/O(处理器),USB通信(高速)

  选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一

  电源

  100~240V AC,50/60Hz,樶大50VA

  尺寸及重量

  260mm W×88mm H×203mm D, 2。4kg

  附件

  电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

 

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