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日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01

简要描述:

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01能够根据指定的频率范围和频率列表,改变最大801点的频率后自动进行测量。测量结果能够通过U盘或者接口保存至PC中,使用附件中的LCR应用软件还能显示频率特性列表。

更新时间:2019-06-24

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日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01系列产品详细信息

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01系列概述

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01能够根据指定的频率范围和频率列表,改变最大801点的频率后自动进行测量。测量结果能够通过U盘或者接口保存至PC中,使用附件中的LCR应用软件还能显示频率特性列表和图片。

 

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01系列特点

● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。

● 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。

● 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。

● (测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性)

● 专用模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。

● 频率扫描测试(仅IM3533-01)

● 除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。

● 内置比较器和BIN功能。

● 2ms的快速测试时间

 

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3533/33-01系列规格表

 

  IM3533

  IM3533-01
  测量模式

LCR,变压器测试(N,M,△L), 连续测试(LCR模式)

LCR,变压器测试(N,M,△L), 分析仪(扫描测试),连续测试(LCR/分析模式)
  测量参数

  Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T

  测量量程

  100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)

  可显示量程

  Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:

  ± (0。000000 [单位] ~9。999999G [单位])

  只有 Z和Y显示真有效值

  θ: ± (0。000° to 999。999°), D: ± (0。000000 to 9。999999)

  Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)

  基本精度

  Z : ±0。05%rdg。 θ: ±0。03°

  测量频率

  1mHz ~200kHz (1mHz ~10Hz步进)

  测量信号电平

  [输出阻抗]

  V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms

  CC模式:10μA~50mArms,10μArms

  [低阻抗高精度模式]

  V模式,CV模式:5mV~2.5Vrms,1mVrms

  CC模式:10μA~100mArms,10μArms

  输出阻抗

  正常模式:100Ω,低阻抗高精度模式:25Ω

  显示

  5.7英寸触摸屏,彩色TFT,显示可设置ON/OFF

  测量时间

  2ms(1kHz,FAST,显示OFF,代表值)

  功能

  DC偏压测量、直流电阻温度补偿

(标准温度换算显示),比较器、BIN测量(分类功能),面板读取/保存、存储功能

  接口

  EXT I/O(处理器),USB通信(高速),USB存储

  选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一

  电源

  100~240V AC,50/60Hz,樶大50VA

  尺寸及重量

  330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg

  附件

  电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

 

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