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产品图片 产品名称/型号 产品描述
  • 日本日置HIOKILCR测试仪IM3533/33-01能够根据指定的频率范围和频率列表,改变最大801点的频率后自动进行测量。测量结果能够通过U盘或者接口保存至PC中,使用附件中的LCR应用软件还能显示频率特性列表和图表。
  • 日本日置HIOKIC测试仪3506-10对应1MHz测试,低容量,高精度,高速测试
  • 日本日置HIOKIC测试仪3504-40/50/60用BIN的分选接口进行被测物体的测试。
  • 日本日置HIOKI微电阻计RM3548热电动势是指不同金属的连接部分所产生的电位差(如图)。具体来说会在测试探头和被测物接触的部分,测量仪器和测量线的连接部分产生。热电动势的大小根据测量环境的温度不同而不同,温差越大则热电动势越大。RM3548的正负双向流过测试电流,使用各自的检测电压,具备消除热电动势影响的偏置电压校正功能。
  • 日本日置HIOKI微电阻计RM3545低阻测量中由于不同金属的连接部分所产生的电压(热电动势)不同,有时会导致测量值不稳定。电阻计RM3545具备对热电动势的影响进行补偿的“偏置电压校正(OVC)功能”。适用于对如汇流排焊接部分这类低电阻进行测量。
  • 日本日置HIOKI微电阻计RM3544是使用4端子法来测量低电阻。根据铜线等温度系数,能够在室温情况下将变化了的实测值换算成标准温度的电阻值,适用于进行绕组线的电阻测量。
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